ZEISS의 차별화된 스캐닝 기술
ZEISS의 접촉식 스캐닝 프로브 헤드는 경로를 따라 수천 개의 지점을 측정하므로 기술이 매우 정확하고 빠릅니다. ZEISS 액티브 스캐닝은 이를 한 단계 더 발전시켜 측정 프로세스의 속도를 크게 높입니다. 더 빠른 스캔은 측정을 수행하는 데 더 적은 수의 장비가 필요하고 문제를 더 빨리 식별할 수 있다는 것을 의미합니다. 측정 시간을 줄이고 CMM을 최대한 활용하기 위해 응용 분야에 적합한 프로브 헤드를 선택하는 방법에 대해 자세히 알아보십시오!
Highlights of this webinar:
- 일상적인 측정 작업에서 능동 스캐닝의 이점 확인
- 최상의 측정 결과를 보장하기 위한 올바른 프로브 헤드 이해
- 터치 트리거 측정 대비 2개의 스캐닝 기술의 장점 확인