사용이 간편한 X-ray 기술

새로운 차원의 간편성

보이지 않는 것을 한 번에 검사

ZEISS METROTOM 1

사용이 간편한 ZEISS METROTOM 1의 CT 기술을 사용하면 단 한 번의 스캔으로 복잡한 측정 및 검사 작업을 효율적으로 수행할 수 있습니다. 접촉식이나 광학식 측정기에서는 발견할 수 없는 숨겨진 내부 결함 및 구조를 측정하고 검사해 보세요. 스마트한 방식: ZEISS METROTOM 1의 크기. 최소한의 공간만 있으면 설치할 수 있는 이 CT는 측정실에 쉽게 설치할 수 있으며, 측정 및 검사를 한 번에 수행할 수 있도록 지원합니다.

다양한 장점을 제공하는 단일 CT 시스템

ZEISS METROTOM 1은 산업용 컴퓨터 단층촬영을 사용하여 품질 검사 포트폴리오를 업그레이드하는 데 적합한 장치입니다. CT 시스템은 다음과 같은 많은 장점이 있습니다.

손쉬운 조작

ZEISS METROTOM 1은 사용자의 편의성을 고려하여 제작되었습니다. 설치 과정은 간단하며, 약간의 교육만 받으면 CT를 사용할 수 있습니다. 단 한 번의 클릭으로 스캐닝 프로세스를 시작할 수 있습니다!

정밀 측정

작지만 정밀한 ZEISS METROTOM 1을 사용하면 전체 부품을 측정하고 평가할 수 있습니다. 신뢰할 수 있는 측정 결과를 기반으로 정확한 공칭과 실제 비교, 치수 검사, 벽 두께 분석을 수행할 수 있습니다.

최소 설치 공간

ZEISS METROTOM 1 은 놀라울 정도로 컴팩트하며. 1,750mm(너비) x 1,820mm(높이) x 870mm(깊이)의 크기를 자랑합니다. 이 같은 사이즈 덕분에 모든 측정실에 CT 시스템을 설치할 수 있어 외부 측정 서비스를 사용하지 않고도 측정실에서 측정 및 품질 보증을 수행할 수 있습니다.

빠른 투자 수익 창출

낮은 영상 캡처 비용 외에도 유지 보수가 적은 시스템 덕분에 소유 비용도 최소화할 수 있습니다. 작동 중에는 ZEISS METROTOM 1 튜브를 유지 관리할 필요가 없습니다.

ZEISS METROTOM 1 - 정밀함과 컴팩트함

모든 측정기술 실험실을 위한 혁신적인 CT 기술

ZEISS 는 CT 기술 분야의 전문가로서 10 년 이상 동안 METROTOM 제품군으로 신뢰할 수 있는 CT 시스템을 제공해왔습니다. 컴퓨터 단층촬영 시스템인 ZEISS METROTOM 1 은 이제 모두가 사용할 수 있는 정밀한 X-ray 기술과 비파괴식 품질 보증을 지원합니다.

평면 패널 검출기

평면 패널 검출기는 샘플을 스크리닝하는 X-ray를 감지합니다.

로터리 테이블

로터리 테이블은 스캐닝 프로세스 중에 부품에 대한 전체 3D 데이터 세트를 캡처할 수 있는 필수 구성 요소입니다.

X-ray 튜브

X-ray는 X-ray 튜브에서 생성되며 샘플을 관통합니다.

전체 구성품 측정. 결함 없는 부품 보장.

ZEISS METROTOM 1 을 사용하면 측정실에서 측정물의 숨겨진 내부 결함을 쉽게 발견할 수 있습니다. ZEISS METROTOM 1을 사용하면 부품 크기, 플라스틱 또는 경금속에 관계없이 커넥터, 플라스틱 캡, 알루미늄 부품 등과 같은 다양한 부품을 검사할 수 있습니다.

GOM Volume Inspect

3차원적인 포괄적 CT 데이터 분석

ZEISS METROTOM 1에는 작동 및 검사 소프트웨어 GOM Volume Inspect가 함께 제공됩니다. 이 소프트웨어는 초보자가 사용하기에 적합하며, 스캔 설정 및 재구성부터 데이터 평가 및 레포트에 이르기까지 CT 프로세스의 전 단계를 통합합니다. 형상, 수축공 또는 내부 구조 및 어셈블리 상황을 정확하게 평가할 수 있습니다. 개별 단면 이미지 덕분에 아주 작은 결함도 가시화할 수 있으며, 다양한 기준을 사용하여 자동으로 평가할 수 있습니다. 단 하나의 소프트웨어로 다수의 구성 요소의 볼륨 데이터를 로드해, 추세를 분석하고 CAD 모델 등으로 캡처한 3D 데이터를 비교할 수도 있습니다.

자세히 알아보기

ZEISS METROTOM 1 with GOM Volume Inspect

시스템 작동 방식을 경험하십시오

기술 데이터

작지만 강력한 ZEISS

X-ray 소스	160 kV
X-ray 검출기	2.5 k
측정 범위	165 x 140 mm
측정기술 사양 (MPE SD)	< 5 μm
크기	1750 mm ((너비) x 1820 mm (높이) x 870 mm (깊이)
중량	2100 kg
소프트웨어	GOM Volume Inspect (내장)