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Learn how to EAT

For Advanced Materials Research

◆ Explore the Near-to-Native

◆ Accelerate Sample Preparation

◆ TEM-like Defect Image

Explore, Accelerate, TEM-like Image

차세대 소재 연구를 위한 혁신적인 접근

혁신적인 재료 연구를 위한 최신 기술 인사이트 웨비나 시리즈에 여러분을 초대합니다.

이번 웨비나 시리즈에서는 첨단 이미징 및 분석 기술을 활용한 새로운 연구 방법을 소개합니다.
더 정밀하고 더 빠른, 더 신뢰할 수 있는 결과를 얻고 싶다면, 이번 웨비나 시리즈를 놓치지 마세요!

  • Explore the Near-to-Native with ZEISS Cryo-FIB
    Near-to-Native 환경에서 시료의 원래 상태를 유지하며 초정밀 가공 및 분석
    Cryo-FIB 기술을 활용한 고해상도 단면 분석 및 TEM 시료 준비 최적화
  • Accelerate Sample Preparation with ZEISS LaserSEM
    레이저 기술을 적용하여 시료 가공 속도를 획기적으로 향상
    열 영향을 최소화하면서도 빠르고 효율적인 FIB-SEM 분석 가능
  • TEM-like Image in Bulk Samples with ZEISS cECCI
    Bulk 시료에서도 TEM 수준의 고해상도 결정체 결함 이미지 확보
    비전도성 소재 및 복합재료에서도 뛰어난 contrast와 디테일 제공

최적의 샘플링 기술부터 TEM 수준의 고해상도 이미지 획득까지, 실험의 효율성과 분석 정확도를 극대화하는 방법을 확인해 보세요.

웨비나 시리즈 등록하기

이런 분들께 추천드립니다!

소재 과학 및 전자 현미경 이미징 연구자

TEM 시료 준비 및 분석 프로세스를 최적화하고 싶은 연구자

빠르고 정밀한 샘플링 및 이미징 기술을 도입하고 싶은 연구 기관 및 기업

#1

Exploring the Near-to-Native State with ZEISS Cryo-FIB

25.03.13 (목) 오후 2-3시 / 온라인 웨비나 (zoom)

Cryo 환경에서는 오염을 최소화하여 민감한 소재도 선명하게 관찰할 수 있으며, 저전압 이미징 기법을 활용하면 재료의 미세한 구조까지 더욱 세밀하게, 다른 현미경 대비 더 뛰어난 contrast로 분석할 수 있습니다.
milling 과정 중 실시간 이미징을 통해 시료의 변화를 직접 확인하며 관심 영역을 빠르게 찾아낼 수 있으며, 3D 분석 시 True Z 기술을 적용하면 정밀한 두께 조절이 가능하여 보다 정확한 데이터를 얻을 수 있습니다.
Cryo-FIB는 기존 분석 기법의 한계를 극복하며, 원형 그대로의 재료 상태를 유지한 채 고해상도 이미징을 가능하게 하는 강력한 솔루션입니다.

더 깨끗한 단면, 더 정밀한 두께 조절, 그리고 더 높은 해상도로 Cryo-FIB가 가져올 혁신을 경험해보세요!

Cryo-FIB 웨비나 신청
발표자 MinKi Choi ZEISS Korea 현미경 솔루션 사업부

Product Application Sales Specialist

#2

Accelerate Your Sample Preparation with ZEISS LaerSEM

25.03.20 (목) 오후 2-3시 / 온라인 웨비나 (zoom)

ZEISS LaserSEM은 큰 volume의 시료를  빠르고 정확히 Laser로 전처리해서 고해상도로 이미징할 수 있는 FE-SEM 솔루션입니다.
LaserSEM을 활용하면 미세표면 구조 뿐 아니라 내부구조를 관찰하기 위해 큰 volume의 시료도 전처리할 수 있습니다.
고해상도 이미징에 특화된 Gemini 기술과 mm 단위의 가공이 가능한 펨토초 레이저가 결합되어 빠르고 정확하게 수십 μm에서 mm에 이르는 대면적 시료 가공과 단면 분석이 가능합니다.
금속, 에너지, 폴리머, 반도체 등 다양한 재료의 가공 및 이미지 분석 또한 가능합니다.

XRM과 같은 다른 이미징 기법과 연계 분석까지 가능한, 시료의 구조를 종합적으로 분석하는 ZEISS LaserSEM을 경험해보세요!.

LaserSEM 웨비나 신청
발표자 EunJi Kang ZEISS Korea 현미경 솔루션 사업부

Product Application Sales Specialist

#3

TEM-like Defect Imaging in Bulk Samples with ZEISS cECCI

25.03.27 (목) 오후 2-3시 / 온라인 웨비나 (zoom)

정밀한 결함 분석을 위해 얇은 단면 시료를 준비하고 TEM으로 분석하는 데 많은 시간을 들이셨나요?
이제 최소한의 시료 준비만으로 뛰어난 결함 이미지를 FE-SEM에서 얻을 수 있습니다!
cECCI(Controlled Electron Channeling Contrast Imaging)은 후방산란전자(BSE) 신호를 이용해 TEM 수준의 결정학적 분석을 가능하게 합니다.
이번 웨비나를 통해 ZEISS FE-SEM 장비의 특징과 함께 cECCI의 원리, 사용법, 그리고 실제 분석 사례까지 한 번에 설명드릴 예정입니다.

더욱 정밀한 결함 분석 수행을 가능하게 하는 FE-SEM의 cECCI를 경험해보세요!

cECCI 웨비나 신청
발표자 EunJin Jeong ZEISS Korea 현미경 솔루션 사업부

Product Application Sales Specialist

Enjoy Your EAT

웨비나 시리즈 출석 이벤트

최신 재료 연구 웨비나 시리즈 만을 위한 특별한 출석 이벤트!

총 세 개의 세션으로 구성된 이번 웨비나 시리즈를 통해 혁신적인 재료 연구를 위한 최신 기술 인사이트 뿐만 아니라 푸짐한 선물까지 받아가세요.
더 많은 세션에 출석할수록, 더 푸짐한 선물을 드리니 3월 한 달간 목요일은 ZEISS 현미경과 함께 하세요!

  • 참여 방법: EAT 웨비나 시리즈 출석하기
    * 웨비나가 종료된 후 진행되는 설문에 참여하셔야 출석으로 인정됩니다.
  • 특별 선물:
    시리즈 중 한 번 출석한 경우, 아메리카노 1잔
    시리즈 중 두 번 출석한 경우, 아메리카노 1잔 + 케이크 1개
    시리즈 중 세 번 출석한 경우, 아메리카노 2잔 + 케이크 2개

※ 이해를 돕기 위한 사진이며, 내규 및 사정에 따라 사진과 다른 선물이 발송될 수 있습니다.

아래 폼을 작성하고 웨비나 시리즈에 등록하세요 ↓

최신 연구 트렌드와 ZEISS 전문가들의 인사이트를 직접 경험할 수 있는 기회를 놓치지 마세요!

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