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모든 샘플에서, 누구나, 언제든, 완벽한 단층촬영을.

ZEISS VersaXRM 730을 소개합니다

ZEISS는 현존하는 XRM (X-ray Microscope; X선 현미경) 중 가장 폭넓은 선택을 제공하는 최신 3D X-ray 현미경, VersaXRM® 730을 선보입니다.

기술이 끊임없이 변화하고 진화하는 환경에서 다양한 기회를 만들기 위해서는 새로운 역량이 필요합니다. 그리고 더 많은 사람들이 장비를 활용하기 위해서는 직관적인 인터페이스가 필요합니다.

자세히 알아보기

ZEISS VersaXRM 730 소개 영상

독점적인 40x-Prime 대물렌즈와 수상 경력에 빛나는 ZEN navx로 무한한 잠재력을 발견하세요.

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혁신을 확인하세요

ZEISS VersaXRM 730의 새로운 특징
혁신적인 해상도

40x-Prime 대물렌즈
Spatial Resolution: 450 nm
450 nm @30kV – 500 nm @160 kV

거리에 따른 해상도 성능:
700 nm @50 mm
750 nm @100 mm
ZEN navx 유저 인터페이스

ZEN navx 가이드 및 제어 시스템을 사용하면 초보자부터 전문가까지 모든 사용자가 빠르게 양질의 결과를 얻을 수 있습니다. 사용자 중심의 mental model과 parameter 가이드를 통해 워크플로우를 최적화하고 효율성과 생산성을 보장할 수 있습니다.
DeepRecon Pro + 워크스테이션

이제 VersaXRM 730에는 고성능 ART 워크스테이션과 더 나은 품질과 더 빠른 처리량으로 이미지를 재구성하는 최고의 소프트웨어, DeepRecon Pro의 2년 라이센스가 포함되어 있습니다.
FPX로 가능해진 FAST Mode

Flat Panel Extension (FPX; 평면 패널 확장)을 통해 가능해진 1분 단층촬영을 위한 FAST Mode를 소개합니다. X-ray 전송 이미지가 다양한 각도에서 획득되는 동안 샘플이 지속적으로 회전하므로 "step-and-shoot" 획득의 overhead time을 제거하여 스캔 시간을 획기적으로 단축할 수 있습니다. FAST Mode는 ZEN navx의 Volume Scout와 결합하여 end-to-end 3D 탐색을 가능하게 합니다.
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어플리케이션

ZEISS VersaXRM 730 활용 사례

다양한 분야에서의 VersaXRM 730 활용을 확인하세요

여러분의 연구 분야를 찾아보세요
  • RaaD bietet viele Vorteile

    Flux grown layered KBiS2 semiconductor crystal. 3D volume rendering shows the complex 3D microstructure consisting of rod and needle structure. Sample courtesy of Prof. Daniel Shoemaker, UIUC

    Materials Research

    • 깊숙이 묻힌 미세구조의 비파괴 이미징, 까다로운 재료 연구를 위한 compositional contrast, in situ 이미징을 위한 RaaD 유지 기능 등 ZEISS VersaXRM 730만의 강점을 경험하세요.
    • 빠르고 직관적인 3D 탐색 기술로 macro-scale 검사를 수행하고 고해상도 이미징을 위해 관심 영역을 쉽게 식별하세요.
    • 더 빠른 처리량, 향상된 이미지 품질 및 해상도를 바탕으로 더 나은 데이터, 더 많은 시료 통계, 그리고 더 많은 사용자를 위한 향상된 장비 활용도를 확보하세요.

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    Life Sciences

    • ZEISS VersaXRM 730으로 다양한 스케일로 전체 샘플을 이미징하고 RaaD 및 FAST Mode를 활용해 관심 영역을 쉽게 탐색, 고해상도로 촬영하세요.
    • 이전에는 도달할 수 없었던 고해상도 overview를 생성하는 ZEISS DeepScout를 활용해 대용량 샘플 이미징의 한계를 극복하세요.
    • 전자 현미경 고해상도 이미징을 위한 정확한 관심 구조 식별과 오차 없는 segmentation 및 localization에 활용되는 high-contrast 이미지를 VersaXRM 730으로 획득하세요.
  • Zuglastversuch von lasergeschweißtem Stahl unter steigender Belastung.

    Quantitative XRM give a unique opportunity to identify key minerals in the battery raw materials supply chain. Spodumene and plagioclase feldspar can be clearly differentiated, and segmentation provides associated heavy mineral relationships.

    Geological Research

    • 지질학 시료를 위한 ZEISS VersaXRM 730의 빠르고 정밀한 나노 스케일 단층촬영 기능을 통해 지구와 그 너머의 샘플을 자세히 관찰하세요.
    • ZEISS LabDCT Pro와 함께 in situ 연구, fluid flow 분석, 광물 반응성 연구 및 phase segmentation, 그리고 회절 단층촬영 (diffraction contrast tomography)를 위한 정확한 3D 나노 스케일 분석을 누리세요.
    • 높은 처리량의 멀티 스케일 이미징과 암석 및 화석 시료의 특성 분석을 통해 효율성을 높여 데이터 분석에 더 많은 시간을 할애하세요.
    • 향상된 이미지 분석 및 AI 어플리케이션을 위해 더 높은 품질의 데이터를 확보하고, 정량적인 자동화 CT mineralogy를 위한 자동 segmentation 소프트웨어를 활용하세요.

  • 3D rendering of an add itively manufactured Inconel lattice structure at multiple scales. Full 5 mm sample is imaged at 5 µm/voxel and then targeted defect zone imaged at 140 kV with 40x-P detector at 0.4 µ m/voxel and reconstructed with ZEISS DeepRecon Pro. Cracks and voids are visible in the high r esolution image that are not visible at lower r esolutions.

    Additive Manufacturing

    • Scout-and-Zoom 기술을 활용해 시료 조작 없이 내부 구조에 빠르게 접근하여 시간과 노력을 절약하세요.
    • 적층 제조 공정 체인 전반에 걸쳐 검사 속도를 향상시키고 고품질 결과를 보장하세요.
    • 동급 최고의 서브미크론 해상도를 활용하여 공정 파라미터와 재료 특성을 정밀하게 분석하세요.

  • 3D view of a radio frequency package acquired at 1.2 µm voxel resolution with FAST Mode acquisition for 10 min scan.

    Electronics and Semiconductor Packaging

    • 혁신적인 RaaD 기능과 AI 기반의 고속 스캔을 통해 IC 패키지와 내부 결함을 비파괴로 이미징하세요.
    • 화면 내 가이드, sample intelligence, 간소화된 워크플로우를 통해 운영 효율성을 개선하는 직관적인 ZEN navx 인터페이스로 사용을 단순화하고 최적화하세요.
    • 넓은 시야각(field of view; FOV)에서 더 빠른 처리량으로 결과 도출 시간을 단축해 장애와 근본 원인을 더 빠르게 식별하고 장애 분석, 패키징 개발 및 비교 분석 어플리케이션을 위한 더 많은 시료 관찰을 촉진하세요.

  • 차단된 제3자 콘텐츠

    비디오 플레이어는 추적 기본 설정에 따라 차단되었습니다. 설정을 변경하여 비디오를 재생하려면 아래 버튼을 클릭하고 "기능" 추적 기술 사용에 동의해 주십시오.
    X-ray microscopy scan of a medical device, a dry powder inhaler. A cross-sectional virtual slice of a scan obtained using FPX is shown on the left and a clipped 3D rendering on the right. Different grayscale values on the left side c orrespond to different density materials.

    Industrial Inspection and Quality Control

    • ZEN navx에 내장된 Volume Scout 기술을 통해 부품을 파괴하거나 분해할 필요 없이 부품의 내부 기능에 빠르게 접근하세요.
    • 제조된 부품과 조립된 디바이스의 integrity를 유지하면서 더 빠른 처리량으로 높은 품질의 검사를 수행하세요.
    • 현존하는 최고의 서브미크론 분해능으로 부품의 미세구조를 자세히 분석하고 재료 특성을 평가하세요.

  • 3D renderings and 2D slice view of rechargeable lithium ion 2025 coin cell battery.

    Lithium Ion Batteries

    • 온전한 파우치 및 원통형 셀을 원거리 해상도(Resolution at a Distance; RaaD)를 통해 고해상도로 이미징하여 수백 번의 충전 주기에 걸친 노화 효과를 종적으로 연구하세요.
    • 배터리를 파괴하지 않고 들여다볼 수 있는 유일한 장비 중에서도 가장 탁월한 정확도를 경험하세요.
    • Scout-and-Zoom을 사용하여 고해상도 관찰을 위한 관심 영역을 식벽하세요.
    • 고해상도 스캔 시간을 획기적으로 단축하세요.
    • ZEISS DeepScout로 더 큰 시료에 대해 고해상도 내부 단층촬영을 수행하세요.