ZEISS METROTOM 6 scout

METROTOM 6 scout

CT 검사 및 계측을 위한 해상도의 강자

ZEISS METROTOM 6 scout는 내부 형상을 포함한 복잡한 부품을 가장 진보된 수준의 디테일로 디지털화합니다. 그 결과 GD&T 분석 또는 목표/실제 비교를 위한 완전한 3D 이미지가 생성됩니다. CT 계측 시스템은 소형 플라스틱 부품 디지타이징에 탁월한 선택입니다.

  • 매우 높은 해상도
  • 높은 수준의 정밀도
  • 자동 물체 배치
  • 올인원 소프트웨어

소형 플라스틱 부품의 고해상도 측정

ZEISS Metrotom 6 scout는 부품의 비파괴 검사 및 3D 계측을 위한 완벽한 솔루션입니다. 뛰어난 측정 성능과 원활한 워크 플로우를 통해 최대의 결함 검출 신뢰성과 정밀도를 보장합니다.

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해상도

부품을 디지타이징할 때 ZEISS METROTOM 6 scout는 뛰어난 선명도로 세부 사항을 보여줍니다. 첫째, 고해상도 3k 엑스레이 디텍터를 사용하여 측정용 데이터를 수집하고 둘째, 각 부품이 가능한 최상의 측정 위치에서 측정되므로 항상 가능한 최고의 해상도로 측정되기 때문입니다. 결과는 이미지에서 확인할 수 있습니다: 왼쪽은 ZEISS METROTOM 6 scout로 생성된 측정용 데이터, 오른쪽은 일반적인 표준입니다.

높은 정밀도 보장

높은 정밀도 보장

정확도

ZEISS METROTOM 6 scout는 수학적 지능을 사용하여 정밀한 3D 측정용 데이터를 생성합니다. 전체 측정 프로세스 동안 완벽하게 상호 연결된 알고리즘과 측정 공간의 디지털 모델링을 결합합니다. 또한 측정과 관련된 모든 구성 요소에 최적화된 기계적 안정성을 제공합니다. 핵심은 이렇습니다: 측정 결과를 바탕으로 신뢰할 수 있고 매우 정확한 방식으로 부품의 품질을 평가하고 추가 분석을 수행할 수 있습니다.

부품을 자동으로 중앙에 배치

센터링 테이블이 통합된 5축 운동학 시스템은 측정 부피에서 부품을 최적으로 배치합니다. 기계의 측정 공간에 놓기만 하면 나머지는 소프트웨어가 알아서 처리합니다.

올인원 소프트웨어

  • Intuitive and powerful​
  • 모든 프로세스 단계를 위한 하나의 솔루션

    모든 프로세스 단계를 위한 하나의 솔루션

    단일 소프트웨어인 ZEISS INSPECT X-Ray는 시스템 제어와 데이터의 계측 평가를 결합합니다. 따라서 추가 소프트웨어나 중간 단계가 필요하지 않습니다.

    이를 통해 원활한 프로세스를 보장하고 원시 데이터 수집부터 검사 및 측정 보고에 이르는 워크 플로우를 크게 간소화할 수 있습니다.

  • 직관적이고 강력합니다

    직관적이고 강력합니다

    ZEISS INSPECT X-Ray 소프트웨어는 부품 품질을 평가하고 제조 공정을 최적화하기 위해 CT 데이터의 완전한 3D 분석을 제공합니다. 개별 단면 이미지를 통해 볼륨을 레이어 별로 볼 수 있어 아주 작은 디테일과 결함까지 확인할 수 있습니다. 감지된 결함은 다양한 기준에 따라 상세하게 분석하고 자동으로 평가할 수 있습니다. 또한 여러 구성 요소의 볼륨 데이터를 프로젝트에 로드하고, 트렌드 분석을 수행하고, 분석 결과를 CAD 데이터와 비교할 수 있습니다. 모든 측정 결과는 문서화되어 체계적으로 정리된 보고서로 요약됩니다. 직관적인 조작과 높은 성능: CT 데이터 분석이 그 어느 때보다 쉬워졌습니다!

ZEISS METROTOM

기술 데이터

특징

엑스레이 소스

225kV

엑스레이 디텍터

해상도: 3008 x 2512 픽셀

측정 영역

d: 240mm
h: 400mm

복셀 크기

2µm - 80µm

치수

H. 2210mm
W. 2200mm
D. 1230mm

무게

4800kg

적용 분야

초기 샘플 테스트, 툴 수정, 진행 중인 생산 중 검사

검사 기능

내부 구조, 벽 두께, 재료 결함, 기공 및 수축 공동

측정 작업

GD & T 분석, 설계-실제 비교, 조립 분석

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