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ZEISS Sigma

신뢰할 수 있는 고해상도 이미징 및 분석 액세스

ZEISS Sigma는 입증된 ZEISS Gemini 기술을 기반으로 합니다. Gemini 대물렌즈 설계는 정전기장과 자기장을 결합하여 광학 성능을 극대화하는 동시에 샘플의 필드에 미치는 영향을 최소한으로 줄입니다. 이를 통해 자성 물질과 같은 까다로운 샘플에서도 탁월한 이미징을 구현할 수 있습니다.

  • 모든 샘플에서 정확하고 재현 가능한 결과 제공
  • 빠르고 쉬운 실험 설정
  • 입증된 Gemini 기술 기반
  • 선명한 이미지를 위한 유연한 감지
  • Sigma 560은 동급 최고의 EDS 구조를 제공합니다
ZEISS Sigma
연락처

산업용 ZEISS Sigma

샘플 테스트 시 새로운 차원의 품질을 경험하세요

Gemini 인렌즈 감지 콘셉트는 2차(SE) 및/또는 후방 산란(BSE) 전자를 감지하여 효율적인 신호 감지를 보장함으로써 이미지 생성 시간을 최소화합니다. Gemini 빔 부스터 기술은 작은 프로브 크기와 높은 신호 대 잡음비를 보장합니다.

최신 감지 기술로 모든 샘플의 특성을 분석할 수 있습니다. 고진공 모드에서 새로운 ETSE 디텍터와 InLens 디텍터로 고해상도 표면 형상 정보를 수집합니다. 가변 압력 모드에서 VPSE 또는 C2D 디텍터로 선명한 이미지를 얻을 수 있습니다. STEM 디텍터로 고해상도 전송 이미지를 생성하세요. 그리고 HDBSD 또는 YAG 디텍터로 성분을 조사합니다.

사용 분야 한눈에 보기

  • 재료 및 제조 부품의 파괴 분석
  • 철강 및 금속의 이미징 및 분석
  • 의료 기기 검사
  • 공정 제어 및 진단에서의 반도체 및 전자 기기의 특성 분석
  • 새로운 나노 물질의 고해상도 이미징 및 분석
  • 코팅 및 박막 분석
  • 다양한 형태의 탄소 및 기타 2D 재료의 특성 분석
  • 폴리머 재료의 이미징, 분석 및 차별화
  • 노화 영향 및 품질 개선을 이해하기 위한 배터리 연구 수행

자동화된 입자 분석 & 멀티 모드의 상관 이미징

  • 상관 자동 입자 분석

    제조 청결도 및 엔진 마모 예측부터 철강 생산, 환경 관리, 적층 가공에 이르기까지 ZEISS의 전자 현미경을 사용한 입자 분석 솔루션은 워크 플로우를 자동화하고 재현성을 높입니다.

    매끄러운 통합 워크 플로우에서 광학 및 전자 현미경을 아우르는 상관 분석

    • 내장된 자동 LM/EM 보고 기능
    • 정확한 오염원 파악
    • 정보에 기반한 신속한 의사 결정
    • 지속적인 생산 품질 개선
    • 더 빠른 결과: 지속적인 개별 분석 대신 자동화된 분석, 내장된 머신러닝 알고리즘을 통한 더 빠른 입자 검사 및 테스트

     

  • 미세 플라스틱 입자 분석의 다중 모드 상관 이미징

    ZEISS ZEN Intellesis를 사용하면 머신 러닝을 통한 입자 식별이 가능합니다. ZEISS ZEN Connect 소프트웨어를 통해 결과를 확인할 수 있습니다. 그런 다음 ZEISS ZEN Intellesis는 머신러닝 이미지 분할 및 물체 분류를 기반으로 입자 분포에 대한 추가적인 통찰력을 제공합니다.

  • 이 두 가지 현미경 방법인 SEM과 라만의 상관관계는 특히 폴리머 입자의 경우 분석 중에 최대한의 정보를 생성하는 데 사용됩니다. ZEN Connect는 기본 분석을 위해 라만과 오버레이하고 자동 분류를 위해 ZEN Intellesis와 오버레이하는 역할을 합니다. 보고 툴은 템플릿을 기반으로 ZEN core에서 보고서를 자동으로 생성하고 PDF 또는 문서 형식으로 저장하는 데 사용됩니다(4).

    이 두 가지 현미경 방법인 SEM과 라만의 상관관계는 특히 폴리머 입자의 경우 분석 중에 최대한의 정보를 생성하는 데 사용됩니다. ZEN Connect는 기본 분석을 위해 라만과 오버레이하고 자동 분류를 위해 ZEN Intellesis와 오버레이하는 역할을 합니다. 보고 툴은 템플릿을 기반으로 ZEN core에서 보고서를 자동으로 생성하고 PDF 또는 문서 형식으로 저장하는 데 사용됩니다(4).

    SEM 이미지(1)의 경우 이미지 분석을 사용하여 모든 입자를 분할하고(2) 선택한 특성을 측정합니다. 예를 들어 측정값은 크기 분포의 형태로 표시할 수 있습니다. Intellesis Object Classification은 분할된 입자를 추가로 분류하고 이를 하위 유형으로 분류하는 데 사용됩니다(3). 이 정보를 사용하여 유형별 입자를 셀 수 있습니다. 표준 나노 및 미세 플라스틱 입자(폴리스티렌(PS, 하늘색), 폴리에틸렌(PE, 녹색), 폴리아미드-나일론 6(PA, 진한 파란색), 폴리염화비닐(PVC, 빨간색))에 대한 물체 분류는 ZEISS Sigma로 이미지화된 폴리카보네이트 필터에서 수행됩니다. 이 상관 연구는 전자 현미경의 고해상도와 라만 현미경의 분석 기능을 결합한 것입니다.

ZEISS SmartPI

ZEISS SmartPI는 생산 환경에서 일상적인 샘플을 반복적이고 대량으로 분석할 수 있도록 설계되었습니다. 오염 데이터를 식별, 분석 및 보고하는 기능은 프로세스 제어에 새로운 차원을 더합니다. 완전 자동화된 SEM 입자 분석 및 분류가 크게 개선되어 이점을 누릴 수 있습니다. ZEISS SmartPI로 생산성 향상, 품질 개선, 오염 비용 절감을 실현하세요. 형태와 원소 구성을 기반으로 관심 있는 입자를 자동으로 감지, 측정, 계수 및 분류합니다.

VDA 19.1 & ISO 16232와 같은 업계 표준 보고서가 자동으로 생성됩니다

완전히 내장되어 있으며 Bruker & Oxford EDS 시스템과 호환욉니다

동영상으로 ZEISS Sigma에 대해 자세히 알아보기

  • ZEISS Gemini 광학 장치의 진화

    차단된 제3자 콘텐츠

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    산업용 ZEISS Gemini 기술. ZEISS는 모든 분야에 적합한 솔루션을 제공합니다. 동영상을 통해 Gemini 기술의 발전과 이점에 대해 알아보세요.

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