보급형 기존 SEM

ZEISS EVO

데이터 품질과 직관적인 조작을 결합한 만능 전자 현미경

ZEISS EVO 제품군의 기기는 고성능 주사 전자 현미경과 직관적이고 사용자 친화적인 경험을 결합하여 전문가와 신규 사용자 모두에게 어필할 수 있는 제품입니다. ZEISS EVO는 다양한 옵션을 통해 재료 과학 분야든 일상적인 산업 품질 보증 및 파괴 분석 분야든 상관없이 고객의 요구 사항에 맞춰 정밀하게 조정할 수 있습니다.

  • 다목적 다용도 솔루션
  • 동급 최고의 활용도
  • 뛰어난 이미지 품질
  • 워크 플로우 자동화 및 데이터 무결성

산업용 ZEISS EVO

검사 수준을 한 단계 끌어올리세요.

ZEISS EVO는 텅스텐 또는 LaB6 기반 필라멘트를 사용하는 기존의 보급형 시스템으로, 고해상도 재료 분석과 같이 매일 반복 가능한 이미징 작업에 적합하며 대부분 자동화되어 사용자를 지원하는 워크 플로우를 갖추고 있습니다. 이 시스템은 덜 까다로운 구조 크기에 대한 유연성을 제공합니다.

사용 분야

  • 품질 분석 및 품질 관리
  • 파괴 분석 및 파면 해석
  • 재료학
  • 청결도 검사
  • ISO 16232 및 VDA 19 Part 1 & 2 표준을 충족하기 위한 입자의 형태학적 및 화학적 분석
  • 비금속 개재물 분석 

ZEISS EVO: 데이터 품질과 직관적인 조작을 결합한 만능 전자 현미경

검사 수준을 한 단계 끌어올리세요. ZEISS EVO는 정확한 가격 및 성능 요구 사항을 충족하는 구성 옵션 메뉴를 제공합니다. 원하는 해상도를 용도에 따라 맞추고 세 가지 챔버 크기 중에서 선택하세요.

샘플 유형에 따라 고진공, 가변 압력 또는 주변 압력을 선택할 수도 있습니다. 그런 다음 SE, BSE, EDX, VP 및 C2D 디텍터 중에서 용도에 맞게 선택하세요. 합리적인 가격으로 전자 현미경의 장점을 누릴 수 있는 ZEISS EVO를 만나보세요.

사용 예

  • 전자 산업

    집적 회로 표면에 이물질과 오염이 있습니다. 10kV의 고진공에서 SE 디텍터로 이미지화합니다.

  • 연료 전지

    연료 전지는 일반적으로 백금 전극 사이에 폴리머 전해질 막이 끼워져 있는 형태로 구성됩니다. 이러한 중요한 구성 요소는 고해상도로 표면 세부 정보를 얻기 위해 저전압으로 이미지화해야 합니다. 3kV에서 LaB6 소스(왼쪽)와 텅스텐 소스(오른쪽)를 사용한 단면. LaB6 소스는 낮은 가속 전압에서 더 많은 표면 디테일을 제공합니다.

  • 아연 도금 연강

    ZEISS EVO 15의 SE 디텍터를 사용하여 이미지화한 아연 도금 연강의 단면. 왼쪽: 마운팅 수지, 가운데: 아연층, 오른쪽: 연강.

  • 엑스레이 분광법(EDX)을 사용한 재료 분석

    크롬, 납, 구리, 니켈, 카보늄, 산소 등 대표적인 부식된 표면의 BSE 이미지와 EDS 지도.

  • 볼 베어링 표면의 파괴 분석

    BSE 디텍터로 이미지화된 볼 베어링의 표면은 표면 구조의 균열과 플레이킹을 보여줍니다.

  • 기술적 청결도

    입자 필터의 입자: 기술적 청결도 분석 및 품질 관리.

주사형 전자 현미경 ZEISS EVO - 90초 안에 보는 10가지 하이라이트

  • 주사 전자 현미경 ZEISS EVO가 어 떻게 초보 사용자도 직관적인 이미징을 통해 품질 및 재료 실험실의 일상적인 검사 및 파괴 분석 작업을 수행할 수 있도록 지원하는지 알아보세요. EVO 하이라이트 - 고해상도 이미징 - 효율적인 작동 - 화학 성분 분석 - 대형 측정물 - 넓은 영역의 이미지 수집 - 비전도성 샘플 - EDX 입자 분석 - 자동 측정 - 지능형 이미지 분할 - 이미지 상관관계 및 공유

추가 산업 사용 분야:

  • 위상, 입자 및 용접 분석
  • 전자 부품, 집적 회로, MEMS 기기 및 태양 전지의 육안 검사
  • 구리선 표면 및 결정 구조 조사
  • 금속 부식 조사
  • 금속 간 상 및 상 전이 분석
  • 미세 균열 및 파단 강도 이미징 및 분석
  • 코팅 및 복합재료에 대한 검사
  • 용접 이음새 및 열의 영향을 받는 영역 검사

ZEISS EVO를 사용하면 서울서 김서방을 찾기와 같은 어려운 과제를 해결할 수 있습니다.

요하네스 바흐만(Johannes Bachmann), 은 INNIO 그룹의 재료 분석 전문가입니다. 전단지를 다운로드하고 전체 내용을 읽어보세요.

서울에서 김서방 찾기와 같은 어려운 과제.

기술적 청결도: INNIO 그룹은 ZEISS 솔루션을 사용하여 잔여 먼지 입자의 화학 성분을 분석합니다.

물론 정확하고 신뢰할 수 있는 결과도 중요하지만, 신속하게 결과를 얻는 것도 중요합니다.

공인 재료 연구소 SPC의 실험실 관리자인 토마스 샤우프(Thomas Schaupp)가 이와 같이 말합니다. ZEISS EVO와 ZEISS의 상관 현미경이 테스트 실험실에서 어떻게 30% 더 빠른 결과를 얻을 수 있도록 지원하는지 알아보세요. 전단지를 다운로드하고 전체 내용을 읽어보세요.

품질 보증을 위한 현미경 애플리케이션:

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