접촉식 스캐닝 프로브

접촉식 스캐닝 프로브

빠르고 정밀한 측정을 위해

스캐닝을 통한 고정밀 측정 결과

접촉 전환식 단일 지점 측정에 비해 ZEISS 스캐닝 기술은 스캐닝 경로를 따라 연속적이고 매끄러운 이동으로 표면을 측정하기 때문에 훨씬 더 정확하고 빠른 측정 결과를 얻을 수 있습니다.

ZEISS XXT

ZEISS XXT

고정밀 스캐닝용

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