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ZEISS 액티브 스캐닝 기술

액티브 스캐닝 프로브

유연성, 속도, 정확성을 극대화하기 위해
ZEISS 액티브 스캐닝 기술
연락처

ZEISS 액티브 스캐닝 기술

접촉식 스캐닝의 발명가인 ZEISS는 액티브 프로브 헤드라는 혁신적인 개념으로 이 기술을 한 단계 더 발전시켰습니다. 실시간으로 제어 가능한 포스 코일과 전자석을 사용하면 스캐닝 경로를 따라 어느 지점에서나 스타일러스에 가장 낮은 유효 힘을 가하고 실제 형상을 따라갈 수 있습니다. 따라서 ZEISS는 최대한의 유연성으로 빠르고 정밀한 스캔을 가능하게 합니다.
ZEISS VAST XT gold

ZEISS VAST XT gold

액티브 스캔의 세계로 들어가기

ZEISS VAST XTR gold

ZEISS VAST XTR gold

회전축이 통합되어 매우 다이내믹합니다

ZEISS VAST gold

ZEISS VAST gold

빠른 스캔 속도를 갖춘 견고하고 다이내믹한 프로브

  • 차단된 제3자 콘텐츠

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기능

액티브 스캐닝

액티브 스캐닝

유연하고 선구적입니다

능동 좌표 측정 시스템은 전기적으로 제어되는 포스 코일을 사용하여 프로브의 길이, 무게, 위치 또는 정렬에 관계없이 프로브에 균일한 힘을 가합니다. 액티브 시스템은 편차를 실시간으로 모니터링하고 가능한 한 낮고 균일하게 유지되도록 측정력을 조정합니다. 이렇게 하면 정확도가 향상되고 전체 프로세스의 속도가 빨라집니다.

기존 및 액티브 스캐닝

ZEISS는 일반 스캐닝과 액티브 스캐닝을 구분합니다. 두 방법 모두 센서에 연결된 터치 프로브의 이동을 통해 표면 데이터를 캡처하지만, 작동 방식에는 큰 차이가 있습니다. 기존의 스캐닝 시스템은 프로브를 중립 위치에 고정하고 광학 센서 또는 프로브가 표면 또는 윤곽 위로 이동할 때 자기장의 자속 밀도 변화에 따라 반응하는 광학 센서를 사용하여 디플렉션을 측정하는 (기계식) 스프링과 함께 작동합니다. 액티브 스캐닝 시스템은 소프트웨어로 제어되는 전자석과 힘 조절기를 대신 사용하므로 스타일러스에 균일하고 보다 낮은 부하를 보장합니다.

액티브 스캐닝

액티브 스캐닝

프로브에 일정한 힘을 가하는 전자기 제어 기능이 있는 액티브 스캐닝 프로브 헤드.

기존 스캐닝

기존 스캐닝

기존 스캐닝 프로브 헤드에는 프로브를 중립 위치에 고정하는 기계식 스프링이 있습니다.

ZEISS VAST Navigator & Performance 패키지

CMM의 잠재력 최대한 활용하기
빠른 스캐닝 속도

빠른 스캐닝 속도

ZEISS VAST Navigator

모든 액티브 스캐닝 시스템에는 ZEISS VAST Navigator가 포함되어 있습니다. 스캔하는 동안 스타일러스의 질량과 길이, 굽힘 힘과 같은 특정 파라미터도 고려되므로 보다 유연한 측정이 가능합니다.

유연한 스캐닝 파라미터

유연한 스캐닝 파라미터

ZEISS VAST Navigator의 전문가 모드

이 모듈은 변경된 공차에 따라 측정 속도를 자동으로 조정하고 형상 및 위치 공차를 고려하여 측정 작업에 따라 항상 자동으로 최대 속도를 사용합니다.

측정 옵션 증가

측정 옵션 증가

ZEISS VAST Performance

VAST 성능 패키지는 CMM의 생산성을 극대화합니다. 내장된 FlyScan 기능을 사용하면 중단된 엣지를 고속으로 스캔할 수 있어 최대 60%의 시간을 절약할 수 있습니다.

Vorteile von aktiven Scanning-Sensoren
액티브 스캐닝 프로브의 장점

액티브 스캐닝 프로브의 장점

  • 실시간으로 측정력 보정
  • 기존 스캔보다 훨씬 빠른 속도
  • 자동 다이내믹 굽힘 보정(VAST 내비게이터)
  • 기하학적 실제 편차로 인한 스캔 경로의 자동 보정
  • 길고 무거운 스타일러스 시스템을 위한 더 많은 애플리케이션 옵션

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