터치 프로브

터치 프로브

높은 정확도와 다양한 측정 작업

CMM의 터치 프로브 헤드

터치 프로브는 매우 높은 수준의 정확도가 필요한 경우에 적합한 선택입니다. 질감 측정 기술에서는 부품의 표면을 한 점씩 측정하거나 프로브에 따라 고속으로 스캔합니다. ZEISS는 고객의 용도에 적합한 솔루션을 제공하기 위해 다양한 터치 프로브 헤드를 제공합니다.

단일 포인트 측정과 ZEISS 스캐닝 기술 비교

스캔을 통해 단일 포인트 측정보다 짧은 시간에 더 많은 포인트를 측정할 수 있으므로 더 빠르고 정확한 측정이 가능합니다.

단일 포인트 측정

단일 포인트 프로브로 측정할 때는 개별 포인트만 측정됩니다. 그런 다음 스타일러스를 이동하고 이 과정을 반복해야 합니다. 측정 포인트 사이의 조건은 보간을 통해 계산되므로 측정 편차가 발생할 수 있습니다. 단일 포인트 프로브를 사용한 측정은 처리량이 적고 공차가 큰 경우에 적합합니다. ZEISS RDS와의 조합이 가능합니다.

스캐닝 기술

스캔하는 동안 프로브는 매끄럽고 연속적으로 움직이며 스타일러스가 표면 위로 이동하면서 매우 짧은 시간에 경로를 따라 수백 개의 포인트를 측정합니다. 이 워크 플로우는 훨씬 더 많은 데이터를 더 높은 처리량으로 제공할 뿐만 아니라 시간도 크게 절약할 수 있습니다.

스캐닝 프로브는 뛰어난 정확도로 처리량이 많은 경우에 적합합니다.

단일 포인트 측정
스캐닝 기술
이산점 측정과 스캐닝 기술 비교

통합 스캐닝 워크 플로우의 장점

단일 포인트 측정에서는 보간을 통해 개별 포인트 간의 비율이 결정되지만, 스캐닝 기술은 훨씬 더 많은 데이터를 캡처하고 측정 신뢰도과 정확도를 높일 수 있습니다. 스캔 속도가 빠르면 측정 처리량이 증가하고 가능한 한 많은 부품의 편차를 확인할 수 있습니다. 또한 스캔 속도가 빨라지면 필요한 좌표 측정기의 수가 줄어들고 문제를 더 빨리 감지할 수 있어 측정물의 불량율 및 재작업이 줄어듭니다.

액티브 스캔

질감 스캐닝의 발명가인 ZEISS는 액티브 프로브 헤드라는 혁신적인 개념으로 이 기술을 한 단계 더 발전시켰습니다. 실시간으로 제어 가능한 포스 코일과 전자석을 사용하면 스캐닝 경로를 따라 어느 지점에서나 스타일러스에 가장 낮은 유효 힘을 가하고 실제 형상을 따라갈 수 있습니다. 따라서 ZEISS는 그 어느 때보다 유연하게 빠르고 정밀한 스캔을 가능하게 합니다.

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