ZEISS Duplex System
측정 프로세스 중 설정
ZEISS Duplex 시스템은 측정 프로세스와 병행하여 측정물을 클램핑 및 분리할 수 있어 CMM의 기계 활용도를 높여줍니다. 이 시스템에는 완전히 자유롭게 접근할 수 있는 두 개의 팔레트 공간이 있어 인체공학적이고 안전하게 작업할 수 있으며 동시에 기계 활용도를 높일 수 있습니다.
추가로 제공되는 자동화 키트를 사용하면 팔레트 교체가 자동화되므로 작업자 없이도 더 오랜 시간 동안 작업할 수 있습니다.